BS PD IEC/TS 62132-9-2014
集成电路. 电磁抗扰度的测量. 辐射抗扰度的测量. 表面扫描法

Integrated circuits. Measurement of electromagnetic immunity. Measurement of radiated immunity. Surface scan method

BS PD IEC/TS 62132-9-2014 发布历史

BS PD IEC/TS 62132-9-2014由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2014-09-30，并于 2014-09-30 实施。

BS PD IEC/TS 62132-9-2014 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

BS PD IEC/TS 62132-9-2014 发布之时，引用了标准

• IEC 60050 修改件3.国际电工词汇（IEV）.第904部分:电气和电子产品及系统的环境标准化*， 2019-10-17 更新
• IEC 62132-1 集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第1部分:一般条件和定义*， 2015-10-29 更新
• IEC TS 61967-3 集成电路.电磁发射的测量.第3部分:辐射发射的测量.表面扫描法
• IEC 61967-6 IEC 61967-6-2008
• IEC TR 61967-1-1 集成电路.电磁发射的测量.第1-1部分:一般条件和定义.近场扫描数据交换格式*， 2015-08-28 更新

* 在 BS PD IEC/TS 62132-9-2014 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

BS PD IEC/TS 62132-9-2014的历代版本如下：

• 2014年09月30日 BS PD IEC/TS 62132-9-2014 集成电路. 电磁抗扰度的测量. 辐射抗扰度的测量. 表面扫描法

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标准号

BS PD IEC/TS 62132-9-2014

发布日期

2014年09月30日

实施日期

2014年09月30日

废止日期

无

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200

发布单位

GB-BSI

引用标准

IEC 60050 IEC 62132-1 IEC TS 61967-3 IEC 61967-6 IEC TR 61967-1-1