BS PD IEC/TS 62132-9:2014
集成电路. 电磁抗扰度的测量. 辐射抗扰度的测量. 表面扫描法

Integrated circuits. Measurement of electromagnetic immunity. Measurement of radiated immunity. Surface scan method

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标准号: BS PD IEC/TS 62132-9:2014
发布: 2014年
发布单位: 英国标准学会
当前最新: BS PD IEC/TS 62132-9:2014

引用标准: IEC 60050 IEC 61967-6 IEC 62132-1 IEC TR 61967-1-1 IEC TS 61967-3

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