HD-RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 ...
最初的实验由天津大学国际纳米中心课题组使用半绝缘SiC晶片进行,其中底部晶片(图1)被涂上有机物以产生大的覆盖有SEG的(0001)面平台,石墨化的有机物可能会导致底部晶片变得稍微温度高一些。 在C面对Si面的情况下,温度较高的C面上形成了一层薄的Si膜,而大的SEG生长在Si面上。因此,从Si面缺失的Si实际上可能会在C面上凝结,以恢复整体的化学计量比。...
半导体材料是一类具有半导体性能(导电能力介于导体与绝缘体之间,电阻率约在 1mΩ·cm~1GΩ·cm 范围内)、可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料。按种类可以分为元素半导体和化合物半导体两大类,元素半导体指硅、锗单一元素形成的半导体,化合物指砷化镓、磷化铟等化合物形成的半导体。...
R50四探针电阻率测量仪Filmetrics R50 系列提供接触式四点探针 (4PP) 和非接触式涡流 (EC)测量。最快 1 点/秒的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动 X-Y 载物台使用标准晶片吸盘定制样品架,最大可测量 300mm 的样品,或200mm 的面积。...
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