BS EN 62435-5-2017
电子元件. 电子半导体设备的长期储存. 第5部分: 晶粒和晶元设备

Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices. - Part 5: Die and wafer devices

BS EN 62435-5-2017 发布历史

BS EN 62435-5-2017由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2017-04-30，并于 2017-04-30 实施。

BS EN 62435-5-2017 在中国标准分类中归属于: L10 电子元件综合，在国际标准分类中归属于: 31.020 电子元器件综合。

BS EN 62435-5-2017 发布之时，引用了标准

• IEC 62435-2 电子元件. 电子半导体设备的长期储存. 第2部分: 劣化机制
• EN 62435-2 
• IEC 60749-3 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第3部分:外部视觉检查
• EN 60749-3 *， 2017-06-01 更新
• IEC 60749-20-1 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第20-1部分:表面贴装装置的处理 包装 标签和运输对水分和焊接热的综合影响敏感*， 2019-06-26 更新
• EN 60749-20-1 
• IEC 61340-5-1 静电学.第5-1部分:静电现象中电子装置的保护.一般要求
• EN 61340-5-1 
• IEC 61340-2-1 静电学.第2-1部分:材料和产品损耗静电荷的能力的测量方法
• EN 61340-2-1 
• IEC/TR 62258-3 半导体压模产品.第3部分:搬运、包装和储存的良好实施推荐规程
• CLC/TR 62258-3 半导体压模产品.第3部分:搬运,包装和储存的良好实施规程建议［替代:CENELEC ES 59008-4-2］
• IEC 62435-1 电子元件.电子半导体器件的长期贮存.第1部分:一般
• EN 62435-1 
• IEC/TR 62380 可靠性数据手册.电子组件、PCBs和设备的可靠性预测用通用模型
• IEC 62435-4 电子元件. 电子半导体设备的长期储存. 第4部分: 储存
• JEDEC JESD22-B116 金属丝连接剪切测试
• JEDEC JESD22-B118 
• ASTM D3330 ASTM D3330-04(R 2018)
• CLC 低压电涌保护器.第22部分:通信和信令网络的电涌保护器.选择和使用原则

* 在 BS EN 62435-5-2017 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

BS EN 62435-5-2017的历代版本如下：

• 2017年04月30日 BS EN 62435-5-2017 电子元件. 电子半导体设备的长期储存. 第5部分: 晶粒和晶元设备

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标准号

BS EN 62435-5-2017

发布日期

2017年04月30日

实施日期

2017年04月30日

废止日期

无

中国标准分类号

L10

国际标准分类号

31.020

发布单位

GB-BSI

引用标准

IEC 62435-2 EN 62435-2 IEC 60068-2-17 EN 60068-2-17 IEC 60068-2-20 EN 60068-2-20 IEC 60749-3 EN 60749-3 IEC 60749-20-1 EN 60749-20-1 IEC 60749-21 EN 60749-21 IEC 60749-22 EN 60749-22 IEC 61340-5-1 EN 61340-5-1 IEC 61340-2-1 EN 61340-2-1 IEC/TR 62258-3 CLC/TR 62258-3 IEC 62435-1 EN 62435-1 IEC/TR 61945 IEC/TR 62380 IEC 62435-4 JEDEC J-STD-002 JEDEC J-STD-033 JEDEC JESD22-B116 JEDEC JESD22-B118 ASTM D3330

BS EN 62435-5-2017系列标准