31-030 标准查询与下载
共找到 330 条与 相关的标准，共 22 页
Definition of terms for soft soldering fluxes
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
Classification for soft soldering fluxes
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
本标准规定了照相式光谱化学分析用的感光板性能、选择、使用规则以及乳剂特性曲线的制作。 用于本标准中的名词术语的定义见GB 9259-88(发射光谱分析名词术语)。
General rule for use of sensitized plate using spectrum
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
Method of analysis for Zinc-Lead in vacuum-Silicon Aluminium alloy by atomic absorption spectrophotometry
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
本标准适用于真空硅铝合金中硅、铁、镁、铜元素的测定。
Method for determination of Silicon,Iron,Magnesium and Copper in vacuum Silicon-Aluminium alloy by emission spectrum
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
本标准适用于电子工业用铍青铜条、带材弹性元件的热处理、对棒、线材弹性元件仅作参考。
Thermal conditioning of elastic components made of Beryllium bronze
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
1.1 本标准规定了用电子枪法测定电子材料的次级电子发射系数。 1.2 本标准适用于所有固态电子材料(包括金属、非金属、半导体与绝缘体)。
Test methods for transmitting coefficient of secondary electron of electronic materials
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
本指导性文件规定了电子器件用银及其合金钎料钎焊时焊缝脱焊温度的测定方法，适用于钎焊脱焊温度的检测。
Test method for physical characteristics of brazing for electronic devices--Determination of pull brazed away temperature of brazing
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1988-03-28
- 实施
- 1988-10-01
本标准规定温差电致冷材料性能的测试方法，适用于温差电致冷材料热导率的测试。
Methods for measurement of thermoelectric refrigeration materials properties--Methods for measurement of thermal conductivity
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1988-03-04
- 实施
- 1988-10-01
本标准规定了温差电致冷材料电导率的测试方法，适用于温差电致冷材料。
Methods for measurement of thermoelectric refrigeration materials properties--Methods for measurements of conductivity
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1988-03-04
- 实施
- 1988-10-01
本标准规定了温差电致冷组件的温差及最低冷成的测试方法，适用于成一般单级和多级温差电致冷组件。
Method for measurement of thermoelectric refrigeration modules properties--Test method for temperature difference and maximum cold side temperature
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1988-03-04
- 实施
- 1988-10-01
本标准规定了温差电致冷材料温差电动势率的测试方法，适用于温差电致冷材料。
Methods for measurement of thermoelectric refrigeration materials properties--Methods for measurement of thermoelectric electromotance
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1988-03-04
- 实施
- 1988-10-01
本方法适用于电子级氢、氮、氧、氩、氮中颗粒的测定，也适用于普通氢、氮、氧、氩、氦及其他无腐蚀性气体中颗粒的测定。
Method for determination of particles in electronic grade gases--Light scattering method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1987-05-18
- 实施
- 1988-01-01
本标准适用于半导体材料、分立器件和集成电路生产工艺过程中使用的电子级氩，按其使用要求电子级氩分为两级，代号为： 电子 Ⅱ级氩代号为：DZAr-Ⅱ； 电子 I级氩代号为：DZAr-I。
Electronic grade Argon
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1987-05-18
- 实施
- 1988-10-01
本标准适用予半导体材料、分立器件和集成电路生产工艺过程中使用的电子级氧。按其使用要求电子级氢分为三级。代号为： 电子Ⅲ级氢代号为；DZH|(2)-Ⅲ； 电子Ⅱ级氢代号为；DZH|(2)-Ⅱ； 电子I级氢代号为；DZH|(2)-I。
Electronic grade Hydrogen
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1987-05-18
- 实施
- 1988-10-01
本标准适用于半导体材料、分立器体和集成电路生产工艺过程中使用的电子级氮，按其 使用要求电子级氮，分为三级，代号为： 电子Ⅲ级氮代号为：DZN|(2)-Ⅲ； 电子Ⅱ级氮代号为：DZN|(2)-Ⅱ； 电子I级氮代号为：DZN|(2)-I。
Electronic grade Nitrogen
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1987-05-18
- 实施
- 1988-10-01
本标准适用于半导体分立器件和集成电路生产工艺过程中使用的电子级氧。按其使用要求电子级氧分为两级，代号为： 电子Ⅱ级氧代号为：DZO|(2)-Ⅱ； 电子l级氧代号为：DZO|(2)-I。
Electronic grade Oxygen
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1987-05-18
- 实施
- 1988-10-01
本标准适用于氢、氮、氧、氩、氦、压缩空气、磷烷、硼烷、六氟化硫等电子工业工艺用气体中微量水份露点的测定，测量范围0∽90℃。
Method for determination of trace water in electronic grade gases--Dew point method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1987-05-18
- 实施
- 1988-01-01
本方法适用于电子级氢、氮、氧、氩气体中痕量甲烷的测定，亦适用于空气及其他惰性气体中甲烷的测定。当进样量为1ml升时，最低检测浓度为0.1ppm。
Method for determination of trace methanane in electronic grade gases--Hydrogen flame ionization deteror method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1987-05-18
- 实施
- 1988-01-01
本标准适用于电子级氢、氮、氧、氩和氦中痕量一氧化碳的测定，测定范围为0.05～20ppm。
Method for determination of trace carbon monoxide in electronic grade gases--Precut hydrogen flame ionization detector method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1987-05-18
- 实施
- 1988-01-01
