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TEM样品制备

2018.6.29
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JMCA

致力于为分析测试行业奉献终身

样品制备

由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。

l 试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。

l 制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。

▽超细颗粒制备方法示意图

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来源：公开资料

▽材料薄膜制备过程示意图

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