2.金相样品观察注意事项
在保证良好制样的前提下，金相样品的观察，还需要重点注意的方面主要有两个：固定方法和荷电效应。固定方法最好是采用专门的金相夹具直接夹持，避免使用软材质的导电胶直接粘接，这主要是因为金相样品不像粉末样品，一般体积大、重量重（在扫描电镜的样品中算是很大的样品），只是简单地粘住的话可能会在高倍下带来不稳定的图像“飘动”，“就像一栋建筑建立在没有地基的泥地上（如图8），其稳定性可想而知”。这对于做能谱来说也是非常不利的。
图8 根基不牢固示意图漫画版（来源：网络）
荷电效应主要是由于导电性的原因，可能被镶嵌小块金属的导电性非常好，但由于采用了不导电的镶嵌料，导致整体没有形成有效的导电通路，电子依然有可能聚集，使样品充电。这时可以采用导电胶连接的方法，人工开辟一条导电通路。很多时候喷金完成以后，依然在高倍下图像模糊或图像漂移，也是由于没有形成有效导电通路的原因。但如果采用飞纳电镜的降低荷电模式（适用飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL）或降低荷电效应样品杯（适用除 Phenom XL 的飞纳电镜系列），只需要用夹具固定牢固即可，不需要考虑镶嵌料和样品的充电。
适用于飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL
可容纳 9x25mm 或 4x47mm
适用于除 Phenom XL 的飞纳电镜系列
最大可容纳直径 32mm 的金相样品
金相样品杯（左）降低荷电效应金相样品杯（右）
制样过程可能带来对结果的影响或破坏，请参照以下注意事项总结：
在试样切割阶段，注意切割位置热量的释放，不能由于太热导致样品内部组织变化的影响深度太深。建议用冷却液实时冷却，并控制切削速度，减少热量的集中释放；
在镶嵌阶段，被观测面朝外可以有效减少抛磨的时间，粉末热镶嵌时要控制好温度和压力，切忌出现多孔状的孔隙镶嵌结构，一旦出现必须重新镶嵌。主要目的是为了使电镜抽真空过程顺利进行，否则可能出现真空报错警告，抽真空时间延长；
抛磨阶段如果是手动抛磨，最好保持圆柱体的两个底面相互平行，并光滑无杂质污染，一是为了便于后续的固定，另一个是为了最大程度减轻高分辨时景深带来的影响。对于使用的砂纸和抛光膏材质要做到了解，便于在后续的能谱分析中排除外来干扰项；
腐蚀完成以后要对样品进行干燥处理，一般的酒精溶液只需要用吹风机吹干就好，但是腐蚀剂如果是水做溶剂，不易挥发时，甚至要真空干燥或在烘箱内部烘干，否则在抽真空时会带来真空系统的损伤；
被镶嵌样品是多孔材料（或者类似的孔隙结构材料）时，尤其要注意其中残留液体对真空的影响，建议采用真空干燥处理之后观察；
在样品制备完成以后，尽快观察，以避免氧化或外界灰尘等脏污对样品表面的影响。如果涂油保护，在下次观察时最好用有机溶剂超声清洗的方法多次清洗，以彻底洗掉油污，但前提是不要对原有形貌造成破坏。
所以当出现图像漂移的问题时，重点考虑以下几个方面：样品本身的材质和状态，样品固定方法、真空度、加速电压和束流、导电通路。由于飞纳电镜的专业防震性，所以在样品的固定方面相较于其他电镜的要求是更低的。如果依然有问题，请及时联系我们的工程师做进一步沟通，我们非常乐意与您做进一步的交流。
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