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关于XRD非晶态定量相分析,你了解多少?
材料中所有物相含量,包括非晶相的含量,对于材料的性能至关重要。为了全面了解材料的性能,很多行业都关注非晶态的含量,如水泥业、矿物及采矿业(无序粘土)、聚合物、制药业等。 利用XRD进行晶态相的定量相分析,理论基础完善,分析方法比较成熟,有大量相关文献,好多方法集成到相关软件中。然而,对非晶态定量分析还存在不少困难,主要有以下几点: 非晶漫散峰在XRD图谱中往往不是很明显,特别是含量较低时 难以区分衍射峰拖尾、非晶漫散峰以及背底强度(如下图中红、绿和蓝线,哪条线是真正的背底呢?) 然而,困难归困难,方法还是有的。XRD非晶态定量相分析的方法主要有两类:单一衍射峰法和全谱分析法。 单一衍射峰法的原理就是建立非晶态含量(标样)和非晶漫散包的峰高强度的关系曲线(Wamorphous=A+Bh,其中h为非晶漫散包的净高强度,其可由峰位平均强度减去背底强度得到)。 这样,定标曲线建完后,只要测出未知样品非晶包的净高度,就可以根据上式计算出非晶态的含量。 根据上述讨论,单一衍射峰法原理很简单,但实际操作比较复杂,需要提供几种不同非晶态含量的标样来建立定标曲线。如果没有非晶标样,单一衍射峰法很难实现。另外,有时非晶峰不只一个,这时我们也无法采用单一衍射峰法。因此实际操作中,往往采用全谱分析法来计算非晶态的含量。 1)首先,找到一个和非晶相相同化学结构的晶态相,假定非晶相是此晶相的微小晶粒,此晶相可以用于建立非晶相峰位和强度的模型; 2)其次,先拟合纯非晶相的谱线,以确定晶粒尺寸和微观应变; 3)最后,固定晶粒尺寸和微观应变,将此物相包括在传统的Rietveld定量计算中,即可得到非晶态的含量。 优点: 不需要准备标样; 可以处理多个非晶相; 非晶相的强度因子(ZMV)由晶相的结构因子决定; 该法为直接计算非晶相含量的方法。 2)将非晶相忽略或作为背底处理,使用正常的Rietveld定量计算,各个物相的重量百分比为: 优点: 非晶相峰形可以用背底函数处理; 数学处理简单,结果较为准确; 很容易集成到任何Rietveld 分析软件。 局限性: 需要精确的晶相组成,否则定量结果是非晶和未知晶相的和;样品污染;样品制备麻烦,对工业界不合适;加入的内标物质和待分析的样品要有相近的X射线吸收系数,否则会造成吸收误差。 2)将整个样品的质量吸收系数μm和利用外标计算的仪器常数K,代入Rietveld定量相分析,即可得到所有物相含量,包括非晶相含量; 3)与内标法相似,外标法也是通过差值计算非晶含量,为间接计算。 局限性: 需要知道整个样品的质量吸收系数;归一化常数随时间变化,需要定期重新确定。 1) PONKCS(PartialOr No Known Crystal Structure)法,即部分已知或是未知晶体结构定量相分析方法,它不仅适用于非晶态定量相分析,也适用于未知结构的晶态相定量分析; 2)经典的 Rietveld 定量方法需要根据结构参数计算所有晶态物相的ZMV值,我们是否能够通过某种方法确定未知物相的ZMV值呢?答案是肯定的。未知结构的ZMV值可通过测量目标物相(α)和内标物相(s)的混合试样得到。 (ZMV)α没有实际的物理意义,只是定量相关的参数。 这样只要计算出非晶相的ZMV值,就可以代入经典的Rietveld定量分析求出非晶态含量。 优点: 可定量未知结构物相; 晶相和非晶相都可以包含在计算中; 可同时处理多个非晶相。 局限性: 至少需要一个已知配比混合样品以获得未知物相的ZMV值。 5 结晶度(Degree of Crystallinity,DOC)的计算 1)测量样品的全谱,可以明显的看到非晶相的包络线; Crystalline Area=所有晶相衍射峰的积分面积和 Amorphous Area=所有非晶相衍射峰的积分面积和 优点: 不需要准备标样; 结晶相和非晶相定义明确; 结晶和非晶相衍射强度分别计算。 局限性: 有时不好定义非晶相;复杂曲线处理困难;非晶相衍射强度和背底重合;要求晶相和非晶相的化学组成相同。 1)使用何种非晶相定量方法,取决于样品的性质和对定量精度的要求; 2)对于不同的定量方法,从理论上讲,非晶相的定量精度和晶相应该是一样的,理想的误差是1% 或更低; 4)如果非晶相的衍射强度非常不明显,尤其是在低含量的时候,使用内标(spiking)定量会准确些,但要注意任何晶相的分析误差都会转移到非晶相结果; 5)如果样品非晶峰明显,使用全谱拟合或PONKCS法会更方便。 非晶态样品为玻璃,且有纯相,被用来作为PONKCS相。用来确定ZMV校准常数的样品为玻璃和刚玉的混合样品,配比为1:1。 1)调入纯非晶相的XRD数据“Sample 1.raw”。 4)“Corrections”选项,LP factor选择0; 5)插入4个峰(峰形SPV)来描述非晶信号,并运行拟合。工具栏中点击“Show Background Curve”,即可看到精修后的背底信号(如下图中倾斜的灰色线所示)。 7)右键Sample1.raw数据,点击“Add hkl Phase”。 在hkl_Phase里面,按下图输入空间群和晶胞参数,同时选中“Cry Size L”,设定初始值为3.5 nm,限定其值介于3.3~3.7之间,然后运行拟合。 8)取消“Delete hkls on Refinement”后的对号。 选择 “Scale”后的方框,在“Value”输入0.00001,再将Fix改为Refine。 同时固定晶粒尺寸Cry size L。 9)选择“hkls Is”界面,把强度I设为固定值。 10)在参数窗口,右键Sample1.raw,选择“Replace Scan Data”,找到Sample2.raw(用于确定ZMV的标样,玻璃和刚玉1:1混合试样)。 11)调入刚玉的结构文件:Corundum.Str。 12)Background选择“Refine”,在“Corrections”界面选中“Sample Displacement”,并将其code改为“Refine”,同时在“Corundum”的“Microstructure”界面选中“Cry Size L”和“Strain L”,并“Refine”。之后运行拟合。 13)点击“hkl_phase”,在cell mass栏输入一个任意初始值,并逐渐改变该值,使计算的内标含量跟加入值一样(50%),此时的值即为该非晶相对应的ZM值)。 14)右键“hkl_Phase”,点击Save Phase,保存建好的结构文件,命名为Glass。 默认为inp格式,保存之后把文件的扩展名改为Str。 此结构文件可作为该非晶相的PONKCS结构文件用于定量分析使用。 15)调入另外一个数据Sample4.raw,用刚才的非晶相PONKCS结构文件(Glass.str),进行Rietveld无标定量相分析,可得实际样品中的非晶态玻璃相的含量为75.24%。
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