为了帮助您更加直观的了解赛默飞的分析流程，我们在展会期间特别开放针对封装测试及平板显示行业的客户进行现场实验演示，利用我们在新纳米港演示中心的设备（Elite 锁相热辐射故障定位系统和Helios G4等离子聚焦离子束扫描电镜）对典型样品进行故障定位和大面积 Plasma FIB 处理。

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时隔一年，赛默飞约您再次相聚SEMICON China 2020，莅临我们的展位（展位号：E3369），您将与技术专家面对面交流我们业界领先的分析流程，为您量身打造失效分析完美解决方案。

相信不少小伙们看到整套指尖实验室，已经跃跃欲试了，内心发出“我也想要一个”的呼声。