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※适合新老客户了解学习膜厚仪的使用；加深对新产品的理解。

FILMETRICS

之前的几个研讨会有稍微提到几个问题是关于这次的主题，首先我们会提到几个不均匀度的主因。接着我们会介绍哪些方法可以克服这个现象: 1) 小光斑(通过较小的光纤, SLED技术,或者搭配显微镜来达成).。2)使用不圴匀度模型。3)波长分析范围的选择。

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Kent Wang 在2010加入Filmetrics，目前是负责光学轮廓仪及测厚仪产品的应用工程师。在Filmetrics之前，曾在Nanometrics任职，当时主要工作是提供台积电等客户的技术支持。求学时期是在台湾科技大学拿到硕士学位，研究科目是在电化学领域。