NOTE: 先调整高度,再调整倾斜角度。高度影响角度,进而影响晶胞参数。倾斜会导致展宽,影响晶粒尺寸。NOTE: 在实验条件下(真空或者不同压力下)进行高度和倾斜角度的调整,压力会改变样品槽的高低。先用Bruker标准样品台调整好衍射仪的入射光路和出射光路。
安装上高温台和样品槽,进行Z扫描,得到类似下面的曲线。然后取Z1和Z2的平均值ZA。ZA就是进行测试时的样品槽的合适位置。
在样品台上装上alignment slit,进行-2~2˚的rocking扫描,步长0.01˚。如果最大值出现在负角度,就通过Alignment stage顺时针旋转样品台。如果最大值出现在正角度,就通过Alignment stage逆时针旋转样品台。直到最大值出现在±0.05˚范围内。
再进行一次高度调整。此次高度调整可以在安装alignment stage情况下,进行Z扫描,核对Z扫描最大值与第一部分高度调整时的ZA是否一致。不一致的情况下再循环重复上面的倾斜角度调整步骤。NOTE:当不想手动调节高温台时,可进行软件倾斜角度调整:直接将rocking扫描时最大值对应的角度填入配置文件即可,位置如下:CONFIGURATION/BASICINSTRUEMNT INFORMATION/DEVICE/GONIOMETER/CENTER/PAAR_Z_HTK1200里的deflection angle即可。
变温过程中的高度自动调整(配置自动Z轴的变温台有此功能)按照1(高度调整步骤)和2(手动调整倾斜角度)中的步骤在常温下调整好高温台的高度和倾斜角度。
加热至温度T1,等候几分钟至温度稳定和均匀。按照步骤1(高度调整步骤)进行Z扫描得到T1温度下对应的Z轴高度ZA(T1)。分别测试不同温度下对应的ZA值。然后将相应的T以及对应的ZA值填入配置文件。
到此为止,高温台的高度和倾斜角度的调整就完成了。可以准备开始实验了。
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