JIS K 0149-1:2008
微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification
JIS K 0149-1:2008 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- JIS K 0149-1:2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 日本工业标准调查会
- 当前最新
- JIS K 0149-1:2008
- 引用标准
- JIS Q 0030 JIS Q 0034 JIS Q 0035 JIS Q 17025
- この規格は，認証標準物質(以下，CRMという。)又は標準物質(以下，RMという。)を用いて走査電子顕微鏡(以下，SEMという。)の像倍率の校正方法について規定する。ただし，この規格は測長SEMには適用しない。たお，この規格の校正の倍率節囲は，用いるCRM又はRMによって制約を受ける。
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