JIS K 0149-1:2008
微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification
JIS K 0149-1:2008 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- JIS K 0149-1:2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 日本工业标准调查会
- 当前最新
- JIS K 0149-1:2008
- 引用标准
- JIS Q 0030 JIS Q 0034 JIS Q 0035 JIS Q 17025
- この規格は，認証標準物質(以下，CRMという。)又は標準物質(以下，RMという。)を用いて走査電子顕微鏡(以下，SEMという。)の像倍率の校正方法について規定する。ただし，この規格は測長SEMには適用しない。たお，この規格の校正の倍率節囲は，用いるCRM又はRMによって制約を受ける。
JIS K 0149-1:2008相似标准
推荐
扫描电镜的分辨率和特点有哪些
扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调；并且景深大, 视野大, 成像立体效果好。...
扫描电子显微镜是利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品
此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。 由于透射电镜是TE进行成像的，这就要求样品的厚度必须保证在电子束可穿透的尺寸范围内。为此需要通过各种较为繁琐的样品制备手段将大尺寸样品转变到透射电镜可以接受的程度。 ...
扫描电子显微镜是利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描...
新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm;放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调;并且景深大,视野大,成像立体效果好。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。 ...
集成电路失效分析步骤
聚焦离子束的细微精准切割，结合扫描电镜的高分辨率成像，可以很好地解决剖面问题，定位精度可以达到0.1um以下，同时剖面过程过集成电路爱到的应力很小，完整地保存集成电路。2、扫描电子显微镜(SEM)，利用聚焦离子束轰击器件面表，面产生许多电子信号，将这些电子信号放大作为调制信号，连接显示器，可得到器件表面图像。...