SAE J1752/3-2011
采用集成电路TEM /宽带TEM(GTEM)单元方式的辐射排放测量;TEM单元(150 kHz至1 GHz),宽带TEM单元(150 kHz至 8 GHz)
Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; TEM Cell (150 kHz to 1 GHz), Wideband TEM Cell (150 kHz to 8 GHz)
SAE J1752/3-2011 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- SAE J1752/3-2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 美国机动车工程师协会
- 替代标准
- SAE J1752/3-2017
- 当前最新
- SAE J1752/3-2017
- 引用标准
- IEC 61967 SAE J1752/1-2006
- 该测量程序定义了一种测量集成电路 (IC) 电磁辐射的方法。待评估的 IC 安装在 IC 测试印刷电路板 (PCB) 上，该印刷电路板夹在 TEM 或宽带 TEM (GTEM) 单元顶部或底部切割的配合端口（称为墙壁端口）上。测试板不像常规使用那样位于电池内，而是成为电池壁的一部分。该方法适用于任何经过改造以合并壁端口的 TEM 或 GTEM 单元；然而，测...
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