研讨会介绍
在本次网络课程中,您将了解到日立EA1400型X射线荧光分析仪的诸多解决方案及应用。其中包括轻元素检测,凹面样品检测,细小异物检测,镀层厚度检测等功能。在有效提高检测能力的同时,高速自动进样器也提高了检测效率。其将帮助您在日常工作中,无论是对应RoHS筛选或其它无损化检测需求都能得心应手。
会议时间: 2022-08-18 14:00
主办单位:日立分析仪器(上海)有限公司
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我们的讲师
潘尔超
应用技术&实验室负责人
15年相关行业从业经验,活跃于仪器分析与第三方检测行业。先后任职SGS、SEIKO Nano、日立分析仪器(上海)有限公司。长期从事X射线荧光检测,XRF镀层测厚分析,等离子发射光谱等应用技术工作。
参会指南
一、参会条件
1、免费报名无需任何差旅费用只需要一台电脑或一部手机,网络带宽超过128K。
2、报告专家PPT讲解将实时传送给所有参会者,参会者也可通过文字向报告人提问,报告人在报告结束后统一进行解答。
二、参会方式(手机电脑均可参会)
1、报名参会并通过审核后,您将会收到邮件通知,并在会前一天收到提醒参会的短信通知。
2、会议当天进入媒体网络讲堂首页(webinar.instrument.com.cn),点击“进入会场”,填写报名时手机号,即可登录会场参会。
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