主题：Introducing the Cryo-TEM lamella preparation from biological samples
演讲人：Ondrej Sulak 博士
时间1：5月19日, 下午3 – 4点（北京时间）
时间2：5月20日, 上午1– 2点 （北京时间）
本次研讨会，将讨论如何用TESCAN cryo-FIB-SEM实现可靠的冷冻透射样品制备的潜在能力，以及众多额外的附加功能---这些都能够集成在同一套系统中。
Ondřej Šulák博士在捷克马萨里克大学获得分析化学硕士学位。之后，他移居法国，在格勒诺布尔的约瑟夫·傅立叶大学获得博士学位并进行博士后研究，他主要专注于使用X射线晶体学、电子显微镜、SAXS和其它相关技术研究碳水化合物结合蛋白的结构功能表征。他的职场生涯始于一家生物技术公司，负责生物化学部门。2016年，Ondrej加入TESCAN公司担任全球应用总监。2019年1月起，担任生命科学部门的产品营销总监。
低温电子显微镜技术（cryo-EM）已经是一项非常成熟的技术，可以观察更接近自然状态下的电子束敏感样品的细节。
冷冻切片是制备此类样品的常规处理方式。然而，通过冷冻切片处理的样品会出现常见的由于人为因素造成的如刀痕、挤压或者裂痕，很容易破坏样品的完整性。另一方面，聚焦离子束（FIB）已经被广泛地使用到对块状样品的亚表面分析、为其它分析构建样品以及制备用于透射电镜（TEM）观察用的超薄切片，这个过程中不需要使用刀片进行切片。
此外，将聚焦离子束（FIB）定点刻蚀功能和扫描电镜（SEM）结合在一起，为生物样品制备提供了更多的可能性。双束聚焦扫描电镜系统（FIB-SEM）不仅能够广泛使用于超薄TEM样品的常规制备，而且能够在室温环境以及低温条件下进行精确地横截面制备和3维重构。
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