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X射线荧光光谱分析技术 | 样品制备方法之一:压片制样

布鲁克X射线部门
2021.9.17

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1
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X射线荧光光谱分析方法
样品制备的要求


《X射线荧光光谱分析》(吉昂等编著)一书中对样品制备的定义:样品一般需要通过制样的步骤,以便得到一种能表征样品的整体组分并为仪器测试的试样。试样应具备一定尺寸和厚度,表面平整,可放入仪器专用的样品盒,同时要求制样过程具有良好的重现性。

样品制备要求:


2
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粉末样品的制备方法


  1. 直接测量
  2. 压片制样
  3. 熔融制样


1

粉末样品:直接测量


粉末样品放入液体杯中直接测量
优点:
缺点:
注意事项:
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2

粉末样品:压片制样的要求





3
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常用的助磨剂和粘结剂


对于不容易制成压片的粉末,考虑在样品中加入粘结剂和助磨剂。需要在研磨时加入,一般加入量为样品质量的5%~20%
固体助磨剂和粘结剂:
液体助磨剂:




4
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常用的压片制样方法


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5
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压片机的参数


压力
保压时间






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