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扫描俄歇微探针（SAM）

2021.3.22
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qi

致力于为分析测试行业奉献终身

　　 扫描俄歇微探针（SAM）；

　　 基本功能：

　　（1）可进行样品表面的微区选点分析（包括点分析，线分析和面分析）；

　　（2）可进行深度分析；

　　（3）化学价态研究

　　 用途：

　　纳米薄膜材料，微电子材料的表 面和界面研究及摩擦化学研究。


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